Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V106:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Coburn, John C. (Hrsg.) / Filter, William F. (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-55899-238-2
- EAN: 9781558992382
- Produktnummer: 12934886
- Verlag: Cambridge
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 1994
- Seitenangabe: 629 S.
- Masse: H23.1 cm x B16.0 cm x D3.8 cm 1'043 g
- Gewicht: 1043
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