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H. R. (Hrsg.) Huff

Ultrathin SiO2 and High-K Materials for ULSI Gate Dielectrics: Volume 567

Buch

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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Weitere Autoren: Richter, C. A. (National Institute of Standards and Technology, Maryland) (Hrsg.) / Green, M. L. (Lucent Technologies, Liberty Corner, New Jersey) (Hrsg.) / Lucovsky, G. (North Carolina State University) (Hrsg.) / Hattori, T. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-1-55899-474-4
  • EAN: 9781558994744
  • Produktnummer: 12935059
  • Verlag: Materials Research Society
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 1999
  • Seitenangabe: 615 S.
  • Masse: H23.6 cm x B16.3 cm x D3.8 cm 1'000 g
  • Abbildungen: Worked examples or Exercises
  • Gewicht: 1000
  • Sonstiges: Tertiary Education (US: College)

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