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Evgeni (Hrsg.) Gusev

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Nano-Electronic Semiconductor Devices

Ebook (PDF Format)

19941610

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Produktdetails


  • ISBN: 978-1-4020-4367-3
  • EAN: 9781402043673
  • Produktnummer: 12826160
  • Verlag: Springer
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2006
  • Seitenangabe: 492 S.
  • Plattform: PDF
  • Masse: 40'042 KB

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