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Joseph I. Goldstein

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Ebook (PDF Format)

91016306

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Produktdetails


Weitere Autoren: Newbury, Dale E. / Michael, Joseph R. / Ritchie, Nicholas W. M. / Scott, John Henry J. / Joy, David C.
  • ISBN: 978-1-4939-6676-9
  • EAN: 9781493966769
  • Produktnummer: 28188167
  • Verlag: Springer-Verlag GmbH
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2017
  • Seitenangabe: 550 S.
  • Plattform: PDF
  • Masse: 75'369 KB
  • Auflage: 4th ed. 2018
  • Abbildungen: 137 schwarz-weiße und 409 farbige Abbildungen, 348 farbige Tabellen, Bibliographie

Über den Autor


This text is written by a team of authors associated with SEM and X-ray Microanalysis Courses presented as part of the Lehigh University Microscopy Summer School. Several of the authors have participated in this activity for more than 30 years.

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