Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
91016306
CHF 118.00
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Produktdetails
Weitere Autoren: Newbury, Dale E. / Michael, Joseph R. / Ritchie, Nicholas W. M. / Scott, John Henry J. / Joy, David C.
- ISBN: 978-1-4939-6676-9
- EAN: 9781493966769
- Produktnummer: 28188167
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2017
- Seitenangabe: 550 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 75'369 KB
- Auflage: 4th ed. 2018
- Abbildungen: 137 schwarz-weiße und 409 farbige Abbildungen, 348 farbige Tabellen, Bibliographie
Über den Autor
This text is written by a team of authors associated with SEM and X-ray Microanalysis Courses presented as part of the Lehigh University Microscopy Summer School. Several of the authors have participated in this activity for more than 30 years.
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