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Bharat (Hrsg.) Bhushan

Applied Scanning Probe Methods XI

Scanning Probe Microscopy Techniques

Buch

The ability to accurately and reproducibly measure the properties and perf- mance characteristics of nanoscale materials, devices, and systems is a critical enabler for progress in fundamental nanoscience, in the design of new nanoma- rials, and ultimately in manufacturing new nanoscale products [1]. This quotation from the US National Nanotechnology Initiative emphasizes the need for measu- ment tools in emerging nanomaterial applications, a eld predicted to generate a multibillion-dollar market within 10 years. One speci c measurement need is for nanomechanical information-knowledge on the nanoscale of mechanical prop- ties such as elastic… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Fuchs, Harald (Hrsg.)
  • ISBN: 978-3-540-85036-6
  • EAN: 9783540850366
  • Produktnummer: 4028357
  • Verlag: Springer-Verlag GmbH
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2008
  • Seitenangabe: 236 S.
  • Masse: H24.1 cm x B16.0 cm x D2.0 cm 606 g
  • Gewicht: 606

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