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Bharat (Hrsg.) Bhushan

Applied Scanning Probe Methods II

Scanning Probe Microscopy Techniques

Buch

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf?cient to delineate single atoms. At ?rst there were two - the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Fuchs, Harald (Hrsg.)
  • ISBN: 978-3-642-06569-9
  • EAN: 9783642065699
  • Produktnummer: 10686792
  • Verlag: Springer Berlin Heidelberg
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2010
  • Seitenangabe: 464 S.
  • Masse: H23.5 cm x B15.5 cm x D2.4 cm 698 g
  • Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 698

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