Scanning Microscopy for Nanotechnology
Techniques and Applications
Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation. Scanning Microscopy for Nanotechnology addresses the rapid development of these techniques for nanotechnology, in both technique and application chapters by leading practitioners. The book covers topics including nanomaterials imaging, X-ray microanalysis, high-resolution SEM, low kV SEM, cryo-SEM, as well as new techniques such as electron back scatter diffraction (EBSD) and scanning transmission electron microscopy (STEM). Fabrication techniques inte…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Zhou, Weilie (Hrsg.)
- ISBN: 978-0-387-33325-0
- EAN: 9780387333250
- Produktnummer: 2276544
- Verlag: Springer New York
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2006
- Seitenangabe: 552 S.
- Masse: H24.5 cm x B16.2 cm x D2.7 cm 1'053 g
- Auflage: 2007
- Abbildungen: HC runder Rücken kaschiert
- Gewicht: 1053
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