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Charles S. (Hrsg.) Barrett

Advances in X-Ray Analysis

Volume 28

Buch

The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer­ ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. T… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Predecki, Paul K. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-1-4612-9499-3
  • EAN: 9781461294993
  • Produktnummer: 15468155
  • Verlag: Springer Us
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2011
  • Seitenangabe: 412 S.
  • Masse: H25.4 cm x B17.8 cm x D2.2 cm 771 g
  • Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1985
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 771

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