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David C. Joy

Helium Ion Microscopy

Principles and Applications

Ebook (PDF Format)

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered include the principles, operation, and performance of the Gaseous Field Ion Source (GFIS), and a comparison of the optics of ion and electron beam microscopes including their operating conditions, resolution, and signal-to-noise performance. The physical principles of Ion-Induced Secondary Electron (iSE) generation by ions are discussed, and an extensive… Mehr

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Produktdetails


  • ISBN: 978-1-4614-8660-2
  • EAN: 9781461486602
  • Produktnummer: 18261666
  • Verlag: Springer-Verlag GmbH
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2013
  • Seitenangabe: 64 S.
  • Plattform: PDF
  • Masse: 2'218 KB
  • Auflage: 2013
  • Abbildungen: 13 schwarz-weiße und 16 farbige Abbildungen, 2 schwarz-weiße Tabellen, Bibliographie

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