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A. (Hrsg.) Benninghoven

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

Buch

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

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Produktdetails

Weitere Autoren: Evans, C. A. Jr. (Hrsg.) / Powell, R. A. (Hrsg.) / Shimizu, R. (Hrsg.) / Storms, H. A. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-3-642-61873-4
  • EAN: 9783642618734
  • Produktnummer: 13394399
  • Verlag: Springer Berlin Heidelberg
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2011
  • Seitenangabe: 320 S.
  • Masse: H22.9 cm x B15.2 cm x D1.7 cm 466 g
  • Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1979
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 466

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