Materials Reliability in Microelectronics VIII: Volume 516
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V105:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Marieb, Thomas N. (Hrsg.) / Lloyd, James R. (Hrsg.) / Korhonen, Matt A. (Cornell University, New York) (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-55899-422-5
- EAN: 9781558994225
- Produktnummer: 12935025
- Verlag: Materials Research Society
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 1998
- Seitenangabe: 365 S.
- Masse: H23.4 cm x B16.0 cm x D2.3 cm 682 g
- Abbildungen: Worked examples or Exercises
- Gewicht: 682
- Sonstiges: Tertiary Education (US: College)
2 weitere Werke von Bravman, John C. (Stanford University, California) (Hrsg.):
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