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Bravman, John C. (Stanford University, California) (Hrsg.)

Materials Reliability in Microelectronics VIII: Volume 516

Buch

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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Produktdetails


Weitere Autoren: Marieb, Thomas N. (Hrsg.) / Lloyd, James R. (Hrsg.) / Korhonen, Matt A. (Cornell University, New York) (Hrsg.)
  • ISBN: 978-1-55899-422-5
  • EAN: 9781558994225
  • Produktnummer: 12935025
  • Verlag: Materials Research Society
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 1998
  • Seitenangabe: 365 S.
  • Masse: H23.4 cm x B16.0 cm x D2.3 cm 682 g
  • Abbildungen: Worked examples or Exercises
  • Gewicht: 682
  • Sonstiges: Tertiary Education (US: College)

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