C. S. (Hrsg.) Barrett

Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

Buch

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentati… Mehr

CHF 130.00

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)

Versandfertig innerhalb 1-3 Werktagen

V103: Folgt in ca. 5 Arbeitstagen

Produktdetails

Weitere Autoren: Gilfrich, John V. (Hrsg.) / Huang, Ting C. (Hrsg.) / Jenkins, Ron (Hrsg.) / McCarthy, G. J. (Hrsg.) / Predecki, Paul K. (Hrsg.) / Ryon, R. (Hrsg.) / Smith, Deane K. (Hrsg.)