Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V105:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Yost, Frederick G. (Hrsg.) / Ho, Paul S. (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-55899-119-4
- EAN: 9781558991194
- Produktnummer: 12934691
- Verlag: Cambridge
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 1991
- Seitenangabe: 354 S.
- Masse: H23.4 cm x B15.5 cm x D2.5 cm 680 g
- Gewicht: 680
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