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Christian Jäger

Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Ebook (PDF Format)

Inhaltsangabe:Einleitung: Die Verbindungshalbleiter GaP und GaSb finden wegen ihrer elektronischen Eigenschaften insbesondere Anwendung in der Opto- und Mikroelektronik. Um zu einem besseren Verständnis der zugrundeliegenden Mechanismen bei Zn-Diffusion in GaP und GaSb zu gelangen, haben wir Diffusionsexperimente durchgeführt. Die Diffusionsglühungen wurden an versetzungsfreien, intrinsischen GaP(001)- und GaSb(001)-Wafern in Quarzglasampullen unter verschiedenen Diffusionsbedingungen durchgeführt. Die Konzentrationsprofile wurden mittels Sekundärionenmassenspektroskopie und Elektronenmikrostrahlsonde bestimmt. Die durch die Zn-Diffusion ents… Mehr

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Produktdetails


  • ISBN: 978-3-8324-1184-8
  • EAN: 9783832411848
  • Produktnummer: 15488122
  • Verlag: Diplom.de
  • Sprache: Deutsch
  • Erscheinungsjahr: 1998
  • Seitenangabe: 103 S.
  • Plattform: PDF
  • Masse: 10'107 KB

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