Machine Vision Inspection Systems, Volume 2, Machine Learning-Based Approaches
Machine Vision Inspection Systems (MVIS) is a multidisciplinary research field that emphasizes image processing, machine vision and, pattern recognition for industrial applications. Inspection techniques are generally used in destructive and non-destructive evaluation industry. Now a day's the current research on machine inspection gained more popularity among various researchers, because the manual assessment of the inspection may fail and turn into false assessment due to a large number of examining while inspection process.This volume 2 covers machine learning-based approaches in MVIS applications and it can be employed to a wide diversity…
Mehr
CHF 185.00
Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)
Versandkostenfrei
Produktdetails
Weitere Autoren: Nayak, Soumya Ranjan (Hrsg.) / Pattnaik, Prasant Kumar (Hrsg.) / Panda, Surya Narayan (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-119-78611-5
- EAN: 9781119786115
- Produktnummer: 35676184
- Verlag: John Wiley & Sons
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2021
- Seitenangabe: 352 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 41'934 KB
- Auflage: 1. Auflage
7 weitere Werke von Muthukumaran (Hrsg.) Malarvel:
Bewertungen
Anmelden