Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
This book presents the broad aspects of measurement, performanceanalysis, and characterization for materials and devices through advanced manufacturing processes. The field of measurement and metrology as a precondition for maintaining high-quality products, devices, and systems in materials and advanced manufacturing process applications has grown substantially in recent years.The focus of this book is to present smart materials in numerous technological sectors such as automotive, bio-manufacturing, chemical, electronics, energy, and construction. Advanced materials have novel properties and therefore must be fully characterized and studied…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Singh, Sunpreet (Hrsg.) / Davim, J. Paulo (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-00-019333-6
- EAN: 9781000193336
- Produktnummer: 34038007
- Verlag: Taylor & Francis Ltd.
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2020
- Seitenangabe: 204 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 25'399 KB
- Auflage: 1. Auflage
- Abbildungen: 118 schwarz-weiße Abbildungen, 62 schwarz-weiße Fotos, 56 schwarz-weiße Zeichnungen, 29 schwarz-weiße Tabellen
Über den Autor
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