Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale* Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology* Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories* Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
CHF 177.00
Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)
V106:
Fremdlagertitel. Lieferzeit unbestimmt
Produktdetails
Weitere Autoren: Chou, Xiujian / Shi, Tielin
- ISBN: 978-1-118-71796-7
- EAN: 9781118717967
- Produktnummer: 18458331
- Verlag: Wiley
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2017
- Seitenangabe: 352 S.
- Masse: H24.4 cm x B16.8 cm x D2.0 cm 680 g
- Gewicht: 680
2 weitere Werke von Wendong Zhang:
Bewertungen
Anmelden