Michael (Hrsg.) Stolz
Internationalität und Interdisziplinarität der Editionswissenschaft
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Thema der Tagung war die in der internationalen Praxis der Editionswissenschaft vielfach beobachtbare Verschiedenheit wissenschaftsgeschichtlicher Traditionen, texttheoretischer Zugänge und editionspragmatischer Verfahren, die häufig aus der jeweils unterschiedlichen Entwicklung einzelner Nationalphilologien und ihrer tragenden Institutionen resultiert. Hinzu tritt die Tatsache, dass die Editionswissenschaft zunehmend in einem interdisziplinären Austausch steht, an dem in jüngerer Zeit auch die Informations- und Naturwissenschaften beteiligt sind (etwa bei der Bestimmung von Schreiberhänden, Schreibmaterialien, textgenetischen Phänomenen). In…
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Beschreibung
Thema der Tagung war die in der internationalen Praxis der Editionswissenschaft vielfach beobachtbare Verschiedenheit wissenschaftsgeschichtlicher Traditionen, texttheoretischer Zugänge und editionspragmatischer Verfahren, die häufig aus der jeweils unterschiedlichen Entwicklung einzelner Nationalphilologien und ihrer tragenden Institutionen resultiert. Hinzu tritt die Tatsache, dass die Editionswissenschaft zunehmend in einem interdisziplinären Austausch steht, an dem in jüngerer Zeit auch die Informations- und Naturwissenschaften beteiligt sind (etwa bei der Bestimmung von Schreiberhänden, Schreibmaterialien, textgenetischen Phänomenen). In einer von beschleunigter Kommunikation und Globalisierung geprägten Wissensgesellschaft berühren und vermischen sich diese verschiedenen Ansätze, dies nicht zuletzt im Kontext medialer Veränderungen. Die editionswissenschaftliche Situation der Schweiz erweist sich in diesem Kontext als paradigmatisch, da sie seit jeher vom engen Kontakt westeuropäischer Sprachen sowie von einer damit einhergehenden Reflexion geprägt ist.
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Produktdetails
Weitere Autoren: Chen, Yen-Chun (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-11-038596-0
- EAN: 9783110385960
- Produktnummer: 16578996
- Verlag: De Gruyter
- Sprache: Deutsch
- Erscheinungsjahr: 2014
- Seitenangabe: 332 S.
- Plattform: EPUB
- Masse: 0 KB
Über den Autor
Michael Stolz und Yen-Chun Chen, Universität Bern, Schweiz.
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