Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low-Power Devices Edited by: Patrick Girard, Research Director, CNRS / LIRMM, France Nicola Nicolici, Associate Professor, McMaster University, Canada Xiaoqing Wen, Professor, Kyushu Institute of Technology, Japan Managing the power consumption of circuits and systems is now considered as one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufac…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Nicolici, Nicola (Hrsg.) / Wen, Xiaoqing (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-4419-0927-5
- EAN: 9781441909275
- Produktnummer: 5070734
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2009
- Seitenangabe: 363 S.
- Masse: H24.4 cm x B16.4 cm x D3.3 cm 717 g
- Abbildungen: 222 schwarz-weisse Abbildungen, 2 schwarz-weisse Fotos, 195 schwarz-weisse Zeichnungen, 24 schwarz-weisse Tabellen
- Gewicht: 717
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