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Alvin W. (Hrsg.) Czanderna

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Buch

Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everyth… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Madey, Theodore E. (Hrsg.) / Powell, Cedric J. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-1-4419-3299-0
  • EAN: 9781441932990
  • Produktnummer: 10301010
  • Verlag: Springer Us
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2010
  • Seitenangabe: 456 S.
  • Masse: H22.9 cm x B15.2 cm x D2.4 cm 656 g
  • Auflage: 2002
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 656

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