Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
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Produktdetails
Weitere Autoren: Newbury, Dale E. / Joy, David C. / Michael, Joseph R. / Ritchie, Nicholas W. M. / Scott, John Henry J.
- ISBN: 978-1-4939-6674-5
- EAN: 9781493966745
- Produktnummer: 20415456
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2017
- Seitenangabe: 550 S.
- Masse: H28.8 cm x B22.0 cm x D3.0 cm 1'907 g
- Auflage: 4th edition
- Abbildungen: Book w. online files / update; 86 schwarz-weiße und 348 farbige Abbildungen, Bibliographie
- Gewicht: 1907
Über den Autor
This text is written by a team of authors associated with SEM and X-ray Microanalysis Courses presented as part of the Lehigh University Microscopy Summer School. Several of the authors have participated in this activity for more than 30 years.
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