Produktbild
Jeffrey R. Di Leo

Criticism After Critique: Aesthetics, Literature, and the Political

Buch

CHF 135.00

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)

Versandfertig innerhalb 1-3 Werktagen

Produktdetails


  • ISBN: 978-1-137-42876-9
  • EAN: 9781137428769
  • Produktnummer: 19402028
  • Verlag: Springer Nature
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2014
  • Seitenangabe: 229 S.
  • Masse: H21.8 cm x B14.2 cm x D1.8 cm 408 g
  • Auflage: 2014
  • Gewicht: 408

Über den Autor


Charles Altieri, University of California, Berkeley, USA R. M. Berry, Florida State University, USA Robert Chodat, Boston University, USA Allen Dunn, University of Tennessee, USA Sue-Im Lee, Temple University, USA Hassan Melehy, University of North Carolina, Chapel Hill, USA Christian Moraru, University of North Carolina, Greensboro, USA Brian O'Keeffe, Barnard College, USA David R. Shumway, Carnegie Mellon University, USANicole Simek, Whitman College, USAAlan Singer, Temple University, USAZahi Zalloua, Whitman College, USA

58 weitere Werke von Jeffrey R. Di Leo:


Bewertungen


0 von 0 Bewertungen

Geben Sie eine Bewertung ab!

Teilen Sie Ihre Erfahrungen mit dem Produkt mit anderen Kunden.