Jeffrey R. Di Leo
Criticism After Critique: Aesthetics, Literature, and the Political
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Produktdetails
- ISBN: 978-1-137-42876-9
- EAN: 9781137428769
- Produktnummer: 19402028
- Verlag: Springer Nature
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2014
- Seitenangabe: 229 S.
- Masse: H21.8 cm x B14.2 cm x D1.8 cm 408 g
- Auflage: 2014
- Gewicht: 408
Über den Autor
Charles Altieri, University of California, Berkeley, USA R. M. Berry, Florida State University, USA Robert Chodat, Boston University, USA Allen Dunn, University of Tennessee, USA Sue-Im Lee, Temple University, USA Hassan Melehy, University of North Carolina, Chapel Hill, USA Christian Moraru, University of North Carolina, Greensboro, USA Brian O'Keeffe, Barnard College, USA David R. Shumway, Carnegie Mellon University, USANicole Simek, Whitman College, USAAlan Singer, Temple University, USAZahi Zalloua, Whitman College, USA
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