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Jay Lee

Statistical Analysis of Geographic Information with ArcView GIS and Arcgis

Buch

Statistical Analysis and Modeling of Geographic Information with ArcView GIS is an update to Lee and Wong's Statistical Analysis with ArcView GIS, featuring expanded coverage of classical statistical methods, probability and statistical testing, new student exercises to facilitate classroom use, new exercises featuring interactive ArcView Avenue scripts, and a new overview of compatible spatial analytical functions in ArcGIS 9.0.

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Produktdetails


Weitere Autoren: Wong, David W. S.
  • ISBN: 978-0-471-46899-8
  • EAN: 9780471468998
  • Produktnummer: 1847932
  • Verlag: John Wiley & Sons
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2005
  • Seitenangabe: 464 S.
  • Masse: H24.0 cm x B16.1 cm x D2.9 cm 859 g
  • Abbildungen: HC gerader Rücken kaschiert
  • Gewicht: 859

Über den Autor


David W. S. Wong, PhD, is Professor and Chair of the Earth Systems and GeoInformation Sciences Program at George Mason University in Fairfax, Virginia. Jay Lee, PhD, is Professor and Chair of the Department of Geography at Kent State University in Kent, Ohio.

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