Applied Measurement with jMetrik
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V106:
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Produktdetails
- ISBN: 978-0-415-53197-9
- EAN: 9780415531979
- Produktnummer: 20566577
- Verlag: Routledge
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2014
- Seitenangabe: 149 S.
- Masse: H22.8 cm x B15.1 cm x D1.5 cm 273 g
- Auflage: New
- Gewicht: 273
Über den Autor
J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia
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