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J. Patrick Meyer

Applied Measurement with jMetrik

Buch

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Produktdetails


  • ISBN: 978-0-415-53197-9
  • EAN: 9780415531979
  • Produktnummer: 20566577
  • Verlag: Routledge
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2014
  • Seitenangabe: 149 S.
  • Masse: H22.8 cm x B15.1 cm x D1.5 cm 273 g
  • Auflage: New
  • Gewicht: 273

Über den Autor


J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia

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