2017 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optoelectronic Measurement Technology and Systems
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V106:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Tam, Hwa-Yaw (Hrsg.) / Xu, Kexin (Hrsg.) / Xiao, Hai (Hrsg.) / Dong, Liquan (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-5106-1753-7
- EAN: 9781510617537
- Produktnummer: 27009789
- Verlag: SPIE Press
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2018
- Seitenangabe: 686 S.
- Masse: H27.9 cm x B21.6 cm x D0.0 cm
- Sonstiges: Professional & Vocational
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