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Bharat (Hrsg.) Bhushan

Applied Scanning Probe Methods XI

Scanning Probe Microscopy Techniques

Buch

The ability to accurately and reproducibly measure the properties and perf- mance characteristics of nanoscale materials, devices, and systems is a critical enabler for progress in fundamental nanoscience, in the design of new nanoma- rials, and ultimately in manufacturing new nanoscale products [1]. This quotation from the US National Nanotechnology Initiative emphasizes the need for measu- ment tools in emerging nanomaterial applications, a eld predicted to generate a multibillion-dollar market within 10 years. One speci c measurement need is for nanomechanical information-knowledge on the nanoscale of mechanical prop- ties such as elastic… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Fuchs, Harald (Hrsg.)
  • ISBN: 978-3-642-09869-7
  • EAN: 9783642098697
  • Produktnummer: 10687400
  • Verlag: Springer Berlin Heidelberg
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2010
  • Seitenangabe: 292 S.
  • Masse: H23.5 cm x B15.5 cm x D1.5 cm 446 g
  • Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 446

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