Photo-Induced Defects in Semiconductors
Photoinduced Defects in Semiconductors is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors that can be created or destroyed by light.
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Produktdetails
Weitere Autoren: Bube, Richard H.
- ISBN: 978-0-521-46196-2
- EAN: 9780521461962
- Produktnummer: 1814282
- Verlag: Cambridge University Press
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2016
- Seitenangabe: 230 S.
- Masse: H23.5 cm x B15.7 cm x D1.8 cm 512 g
- Abbildungen: HC gerader Rücken kaschiert
- Gewicht: 512
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