Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and h…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Tao, Jing (Hrsg.) / Wang, Chen (Hrsg.) / Wang, Rongming (Hrsg.) / Zhang, Hongzhou (Hrsg.)
- ISBN: 978-981-1344-20-6
- EAN: 9789811344206
- Produktnummer: 29821554
- Verlag: Springer Singapore
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2019
- Seitenangabe: 516 S.
- Masse: H23.5 cm x B15.5 cm x D2.7 cm 774 g
- Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
- Abbildungen: Paperback
- Gewicht: 774
Über den Autor
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