Produktbild
Xuedong (Hrsg.) Bai

Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

Buch

This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and h… Mehr

CHF 158.00

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)

Versandfertig innerhalb 1-3 Werktagen

Produktdetails


Weitere Autoren: Tao, Jing (Hrsg.) / Wang, Chen (Hrsg.) / Wang, Rongming (Hrsg.) / Zhang, Hongzhou (Hrsg.)
  • ISBN: 978-981-1344-20-6
  • EAN: 9789811344206
  • Produktnummer: 29821554
  • Verlag: Springer Singapore
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2019
  • Seitenangabe: 516 S.
  • Masse: H23.5 cm x B15.5 cm x D2.7 cm 774 g
  • Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 774

Über den Autor


124523752

2 weitere Werke von Xuedong (Hrsg.) Bai:


Bewertungen


0 von 0 Bewertungen

Geben Sie eine Bewertung ab!

Teilen Sie Ihre Erfahrungen mit dem Produkt mit anderen Kunden.