Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2016, consisting of the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The 51 full papers presented were carefully reviewed and selected from 68 submissions. They are organized in the following topical sections: dimensionality reduction, manifold learning and embedding methods; dissimilarity representations; graph-theoretic methods; model selection, classification and clustering; sem…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Loog, Marco (Hrsg.) / Biggio, Battista (Hrsg.) / Escolano, Francisco (Hrsg.) / Wilson, Richard (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-319-49055-7
- EAN: 9783319490557
- Produktnummer: 33330605
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2016
- Seitenangabe: 588 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 53'387 KB
- Abbildungen: 167 schwarz-weiße Abbildungen, Bibliographie
- Reihenbandnummer: 10029
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