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John C. (Hrsg.) Russ

Advances in X-Ray Analysis

Volume 25

Buch

In alternating years, the Denver X-ray Conference turns its principal attention, through the choice of subjects for the plenary lectures, to various aspects of either X-ray fluorescence or dif­ fraction. This is a fluorescence year, and the three invited lecturers are experts in techniques that are at, or perhaps yet a bit beyond, the forefront of our understanding and technology in that field. The common denominator in selecting these subjects was that each is approaching a full elucidation of theory, and active develop­ ment of practical hardware, and that each presents analytical pos­ sibilities which can hardly be ignored in the next gene… Mehr

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Produktdetails


  • ISBN: 978-1-4613-9995-7
  • EAN: 9781461399957
  • Produktnummer: 15207602
  • Verlag: Springer Us
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2012
  • Seitenangabe: 420 S.
  • Masse: H24.4 cm x B17.0 cm x D2.2 cm 721 g
  • Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1982
  • Abbildungen: Paperback
  • Gewicht: 721

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