Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
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V103:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Escolano, Francisco (Hrsg.) / Loog, Marco (Hrsg.) / Robles-Kelly, Antonio (Hrsg.) / Wilson, Richard (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-319-49054-0
- EAN: 9783319490540
- Produktnummer: 21111831
- Verlag: Springer International Publishing
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2016
- Seitenangabe: 604 S.
- Masse: H23.3 cm x B15.7 cm x D3.8 cm 932 g
- Auflage: 1st ed. 2016
- Abbildungen: Paperback
- Gewicht: 932
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