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Thomas Jeier

Best of New York - 66 Highlights

Ein Bildband mit über 180 Bildern

Buch

New York, die vielleicht faszinierendste Metropole unseres Planeten, ist ein lebendiger Mythos: Für Millionen Einwanderer war sie das Tor in die Neue Welt, und die Völkervielfalt prägt noch heute das bunte Gesicht der Stadt. Schwindelerregende Wolkenkratzer bestimmen die einzigartige Skyline; die Freiheitsstatue, der Central Park, das Empire State Building, der Times Square und die Wall Street sind nur Splitter des Kosmos New York. Das Museum of Modern Art und das Guggenheim Museum, zahllose weitere Kunstgalerien und Museen, an die 250 Theater-, Opern- und Balletthäuser begeistern den Besucher.Die neue Reihe 66 Highlights beleuchtet 66 sehens… Mehr

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Produktdetails


Weitere Autoren: Heeb, Christian (Fotogr.)
  • ISBN: 978-3-8003-4900-5
  • EAN: 9783800349005
  • Produktnummer: 14364152
  • Verlag: Stürtz Verlag
  • Sprache: Deutsch
  • Erscheinungsjahr: 2013
  • Seitenangabe: 136 S.
  • Masse: H30.7 cm x B25.1 cm x D1.7 cm 983 g
  • Auflage: Neuauflage
  • Abbildungen: 66 Karten, 180 Abbildungen
  • Gewicht: 983

Über den Autor


Christian Heeb zählt mit über hundert publizierten Bildbänden zu den erfolgreichsten Reisefotografen der Welt. Seine Bilder werden weltweit in großen Magazinen wie Abenteuer & Reisen, Animan und National Geographic Traveller publiziert. Thomas Jeier ist einer der erfolgreichsten Autoren von Reisebüchern, historischen Romanen und Jugendbüchern im deutschsprachigen Raum. Er lebt bei München und on the road in den USA und Kanada.

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