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Evgeni (Hrsg.) Gusev

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Nano-Electronic Semiconductor Devices

Buch

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Produktdetails


  • ISBN: 978-1-4020-4365-9
  • EAN: 9781402043659
  • Produktnummer: 2253068
  • Verlag: Springer Netherlands
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2006
  • Seitenangabe: 508 S.
  • Masse: H30.3 cm x B21.5 cm x D3.3 cm 1'574 g
  • Auflage: 2006
  • Abbildungen: HC runder Rücken kaschiert
  • Gewicht: 1574

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