Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of t…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Eichhorn, Klaus-Jochen (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-642-40128-2
- EAN: 9783642401282
- Produktnummer: 18922767
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2013
- Seitenangabe: 363 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 15'944 KB
- Auflage: 2014
- Abbildungen: 161 schwarz-weiße und 55 farbige Abbildungen, Bibliographie
- Reihenbandnummer: 52
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