Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and h…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Wang, Chen (Hrsg.) / Zhang, Hongzhou (Hrsg.) / Tao, Jing (Hrsg.) / Bai, Xuedong (Hrsg.)
- ISBN: 978-981-1304-54-5
- EAN: 9789811304545
- Produktnummer: 29573934
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2018
- Seitenangabe: 508 S.
- Plattform: PDF
- Masse: 33'687 KB
- Abbildungen: 307 schwarz-weiße und 26 farbige Abbildungen, Bibliographie
- Reihenbandnummer: 272
Über den Autor
103752452
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