Defects in Microelectronic Materials and Devices
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V105:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Schrimpf, Ronald D. (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-4200-4376-1
- EAN: 9781420043761
- Produktnummer: 4397663
- Verlag: Taylor & Francis Inc
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2008
- Seitenangabe: 770 S.
- Masse: H26.0 cm x B18.5 cm x D4.2 cm 1'520 g
- Gewicht: 1520
- Sonstiges: Undergraduate
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