High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V106:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Smith, David J. (Hrsg.) / Dahmen, Ulrich (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-55899-072-2
- EAN: 9781558990722
- Produktnummer: 12934659
- Verlag: Cambridge Univ Pr
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 1990
- Seitenangabe: 420 S.
- Masse: H23.1 cm x B16.0 cm x D2.8 cm 839 g
- Gewicht: 839
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