Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
This practical and theoretical text/reference develops the concepts of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry. This acclaimed new edition contains many improved explanations and new material on high-resolution microscopy.
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Produktdetails
Weitere Autoren: Howe, James
- ISBN: 978-3-662-04901-3
- EAN: 9783662049013
- Produktnummer: 37249894
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2013
- Seitenangabe: 748 S.
- Plattform: PDF
- Auflage: 2nd ed. 2002
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