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A. (Hrsg.) Benninghoven

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

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Produktdetails


Weitere Autoren: Evans, C. A. Jr. (Hrsg.) / Powell, R. A. (Hrsg.) / Shimizu, R. (Hrsg.) / Storms, H. A. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-3-642-61871-0
  • EAN: 9783642618710
  • Produktnummer: 38240755
  • Verlag: Springer Berlin Heidelberg
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2013
  • Seitenangabe: 300 S.
  • Plattform: PDF
  • Auflage: 1979
  • Reihenbandnummer: 9

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