Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
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Noch nicht erschienen, Januar 2022
Produktdetails
Weitere Autoren: Evans, C. A. Jr. (Hrsg.) / Powell, R. A. (Hrsg.) / Shimizu, R. (Hrsg.) / Storms, H. A. (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-642-61871-0
- EAN: 9783642618710
- Produktnummer: 38240755
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2013
- Seitenangabe: 300 S.
- Plattform: PDF
- Auflage: 1979
- Reihenbandnummer: 9
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