Quality Aspects in Spatial Data Mining
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V112:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Shi, Wenzhong (Hrsg.) / Bijker, Wietske (Hrsg.)
- ISBN: 978-0-367-38632-0
- EAN: 9780367386320
- Produktnummer: 31838033
- Verlag: Taylor and Francis
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2019
- Seitenangabe: 374 S.
- Masse: H23.4 cm x B15.6 cm 526 g
- Abbildungen: Farb., s/w. Abb.
- Gewicht: 526
Über den Autor
Alfred Stein, Wenzhong Shi, Wietske Bijker
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