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Michael (Hrsg.) Mastro

Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108

Buch

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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Produktdetails


Weitere Autoren: Laroche, Jeffrey (Hrsg.) / Ren, Fan (Hrsg.)
  • ISBN: 978-1-60511-080-6
  • EAN: 9781605110806
  • Produktnummer: 12907590
  • Verlag: Cambridge
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2009
  • Seitenangabe: 259 S.
  • Masse: H23.4 cm x B15.5 cm x D2.0 cm 476 g
  • Gewicht: 476

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