Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V106:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Laroche, Jeffrey (Hrsg.) / Ren, Fan (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-60511-080-6
- EAN: 9781605110806
- Produktnummer: 12907590
- Verlag: Cambridge
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2009
- Seitenangabe: 259 S.
- Masse: H23.4 cm x B15.5 cm x D2.0 cm 476 g
- Gewicht: 476
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