Manish Jain

Ocena parametru przetwornika A/D

przy uzyciu techniki badan histogramowych

Buch

Testowanie ADC jest wazna czynnoscia, która odgrywa glówna role w decydowaniu o dokladnosci systemu. Wiele aplikacji obserwuje pomiary przy uzyciu ADC. Takie zastosowanie wiaze sie z wysoka dokladnoscia i rozdzielczoscia, a wiec jest zapewnione przez zakres dynamiczny sygnalu. Wartosci parametrów ADC moga byc w przyszlosci poprawione poprzez zwiekszenie liczby próbek, czestotliwosci i przesterowania. Algorytm testowy moze byc zastosowany do analizy eksperymentalnej ADC w czasie rzeczywistym. Zmodyfikowany algorytm gestosci kodu, który zmniejsza wplyw bledów na dane histogramu. Algorytm ten moze osiagnac ten sam poziom dokladnosci co konwencjo… Mehr

CHF 47.90

Preise inkl. MwSt. und Versandkosten (Portofrei ab CHF 40.00)

Versandfertig innerhalb 1-3 Werktagen

V105: Folgt in ca. 15 Arbeitstagen

Produktdetails

ISBN: 978-620-0-54669-2
EAN: 9786200546692
Produktnummer: 37263502
Verlag: Wydawnictwo Bezkresy Wiedzy
Sprache: Polnisch
Erscheinungsjahr: 2020
Seitenangabe: 88 S.
Masse: H22.0 cm x B15.0 cm x D0.5 cm 149 g
Abbildungen: Paperback
Gewicht: 149

Über den Autor

Dr. JAIN Associate Professor, EEE-afdeling, Mandsaur University, promoveerde in ECE. Hij heeft papers gepubliceerd in International Journal en vermeld in IEEE conferentie Proceedings. Onder zijn leiding zijn studentenprojecten gesanctioneerd voor financiële bijstand door het Department of Science & Technology.