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David C. Joy

Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis

Buch

This book describes for the first time how Monte Carlo modeling methods can be applied to electron microscopy and microanalysis. Computer programs for two basic types of Monte Carlo simulation are developed from physical models of the electron scattering process--a single scattering programcapable of high accuracy but requiring long computation times, and a plural scattering program which is less accurate but much more rapid. Optimized for use on personal computers, the programs provide a real time graphical display of the interaction. The programs are then used as the startingpoint for the development of programs aimed at studying particular… Mehr

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Produktdetails


  • ISBN: 978-0-19-508874-8
  • EAN: 9780195088748
  • Produktnummer: 22667416
  • Verlag: Oxford University Press
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 1995
  • Seitenangabe: 224 S.
  • Masse: H24.3 cm x B16.1 cm x D2.1 cm 517 g
  • Abbildungen: line figures, tables
  • Reihenbandnummer: 09
  • Gewicht: 517

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