Machine Learning in VLSI Computer-Aided Design
This book provides readers with an up-to-date account of the use of machine learning frameworks, methodologies, algorithms and techniques in the context of computer-aided design (CAD) for very-large-scale integrated circuits (VLSI). Coverage includes the various machine learning methods used in lithography, physical design, yield prediction, post-silicon performance analysis, reliability and failure analysis, power and thermal analysis, analog design, logic synthesis, verification, and neuromorphic design. Provides up-to-date information on machine learning in VLSI CAD for device modeling, layout verifications, yield prediction, post-silicon…
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Produktdetails
Weitere Autoren: Boning, Duane S. (Hrsg.) / Li, Xin (Hrsg.)
- ISBN: 978-3-030-04665-1
- EAN: 9783030046651
- Produktnummer: 29452293
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2019
- Seitenangabe: 694 S.
- Masse: H24.1 cm x B16.0 cm x D4.4 cm 1'226 g
- Auflage: 2019
- Abbildungen: Book; 69 schwarz-weiße und 272 farbige Abbildungen, 272 farbige Tabellen, Bibliographie
- Gewicht: 1226
Über den Autor
93060920
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