Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach
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Produktdetails
Weitere Autoren: Pecht, Michael G. / Hakim, Edward B.
- ISBN: 978-0-367-40097-2
- EAN: 9780367400972
- Produktnummer: 31924977
- Verlag: Taylor and Francis
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2019
- Seitenangabe: 336 S.
- Masse: H25.4 cm x B17.8 cm 621 g
- Abbildungen: Farb., s/w. Abb.
- Gewicht: 621
Über den Autor
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
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