Defects in Microelectronic Materials and Devices
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V112:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Schrimpf, Ronald D. (Hrsg.)
- ISBN: 978-0-367-38639-9
- EAN: 9780367386399
- Produktnummer: 31837730
- Verlag: Taylor and Francis
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2019
- Seitenangabe: 770 S.
- Masse: H25.4 cm x B17.8 cm 1'430 g
- Abbildungen: Farb., s/w. Abb.
- Gewicht: 1430
Über den Autor
Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf
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