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Daniel M. (Hrsg.) Fleetwood

Defects in Microelectronic Materials and Devices

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Produktdetails


Weitere Autoren: Schrimpf, Ronald D. (Hrsg.)
  • ISBN: 978-0-367-38639-9
  • EAN: 9780367386399
  • Produktnummer: 31837730
  • Verlag: Taylor and Francis
  • Sprache: Englisch
  • Erscheinungsjahr: 2019
  • Seitenangabe: 770 S.
  • Masse: H25.4 cm x B17.8 cm 1'430 g
  • Abbildungen: Farb., s/w. Abb.
  • Gewicht: 1430

Über den Autor


Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf

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