CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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V106:
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Produktdetails
Weitere Autoren: Harris, H. Rusty (Hrsg.) / Taylor, Bill (Hrsg.)
- ISBN: 978-1-60511-128-5
- EAN: 9781605111285
- Produktnummer: 12907608
- Verlag: Cambridge University Press
- Sprache: Englisch
- Erscheinungsjahr: 2016
- Seitenangabe: 194 S.
- Masse: H23.5 cm x B15.7 cm x D1.5 cm 442 g
- Abbildungen: HC gerader Rücken kaschiert
- Gewicht: 442
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